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PXS8-Te同轴光体视显微镜

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最后更新: 2015-08-06 14:09
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产品详细说明
 PXS8-Te同轴光体视显微镜


 

PXS8-Te同轴光体视显微镜 
适用于电子线路板、芯片封装、珠宝鉴定、研相矿本分析、微小精密零件品质控制、装配、公安、
银行痕迹对比、教学示范、临床手术样本、农业选种,纺织品检验、养殖业品种优选、病理分析。


PXS8-Te同轴光体视显微镜 特点:
PXS8-Te来自美国的品牌,目前国内仅有的高倍立体显微镜,我们采用和国外同步的同轴光技术,
以满足对透明封装后的芯片特殊检测标准的使用要求。

品质优良的光学系统使图像更明亮,即使长时间观测眼睛也不会疲劳。
粗微动的调焦首次应用在高倍体视上,使高倍调焦变得更加精准。
多种支架的选配,总能满足复杂工位的操作要求。
还有各种光谱光源的配合,帮助解决碰到的困难。

PXS8-Te同轴光体视显微镜 主要技术参数 
镜筒:双目,45度倾斜 
高眼点大视野目镜:PLAN10X/20 mm 
物镜:0.9X-7.4X 
变倍比:18.2 
总放大倍数:9-74X 
调焦:粗微动调焦,粗动立杆高度300mm,升降范围105mm 
工作距离:102mm

光源:同轴光.

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